Proceso de destilación e purificación de xofre de ultra alta pureza 6N con parámetros detallados

Noticias

Proceso de destilación e purificación de xofre de ultra alta pureza 6N con parámetros detallados

A produción de xofre 6N (≥99,9999 % de pureza) de ultra alta pureza require destilación en varias etapas, adsorción profunda e filtración ultralimpa para eliminar metais traza, impurezas orgánicas e partículas. A continuación móstrase un proceso a escala industrial que integra destilación ao baleiro, purificación asistida por microondas e tecnoloxías de postratamento de precisión.


I. Pretratamento de materias primas e eliminación de impurezas

1. Selección de materias primas e pretratamento

  • RequisitosPureza inicial do xofre ≥99,9 % (grao 3N), impurezas metálicas totais ≤500 ppm, contido de carbono orgánico ≤0,1 %.
  • Fusión asistida por microondas:
    O xofre bruto procésase nun reactor de microondas (frecuencia de 2,45 GHz, potencia de 10–15 kW) a 140–150 °C. A rotación dipolar inducida por microondas garante unha fusión rápida á vez que se descompoñen as impurezas orgánicas (por exemplo, compostos de alcatrán). Tempo de fusión: 30–45 minutos; profundidade de penetración das microondas: 10–15 cm
  • Lavado con auga desionizada:
    O xofre fundido mestúrase con auga desionizada (resistividade ≥18 MΩ·cm) nunha proporción de masa de 1:0,3 nun reactor con axitación (120 °C, presión de 2 bar) durante 1 hora para eliminar os sales solubles en auga (por exemplo, sulfato de amonio, cloruro de sodio). A fase acuosa decántase e reutilízase durante 2 ou 3 ciclos ata que a condutividade sexa ≤5 μS/cm.

2. Adsorción e filtración en varias etapas

  • Adsorción de terra de diatomeas/carbón activado:
    Engádense terra de diatomeas (0,5–1 %) e carbón activado (0,2–0,5 %) ao xofre fundido baixo protección de nitróxeno (130 °C, axitación durante 2 horas) para adsorber complexos metálicos e materia orgánica residual.
  • Filtración de ultraprecisión:
    Filtración en dúas etapas con filtros sinterizados de titanio (tamaño de poro de 0,1 μm) a unha presión do sistema ≤0,5 MPa. Reconto de partículas posfiltración: ≤10 partículas/L (tamaño >0,5 μm).

II. Proceso de destilación ao baleiro en varias etapas

1. Destilación primaria (eliminación de impurezas metálicas)

  • EquipamentoColumna de destilación de cuarzo de alta pureza con recheo estruturado de aceiro inoxidable 316L (≥15 pratos teóricos), baleiro ≤1 kPa.
  • Parámetros operativos:
  • Temperatura de alimentación‌: 250–280 °C (o xofre ferve a 444,6 °C a presión ambiente; o baleiro reduce o punto de ebulición a 260–300 °C).
  • Relación de refluxo5:1–8:1; flutuación da temperatura na parte superior da columna ≤±0,5 °C.
  • ProdutoPureza do xofre condensado ≥99,99 % (grao 4N), impurezas metálicas totais (Fe, Cu, Ni) ≤1 ppm.

2. Destilación molecular secundaria (eliminación de impurezas orgánicas)

  • EquipamentoDestilador molecular de percorrido curto con espazo de evaporación-condensación de 10–20 mm, temperatura de evaporación de 300–320 °C, baleiro ≤0,1 Pa.
  • Separación de impurezas:
    Os compostos orgánicos de baixo punto de ebulición (por exemplo, tioéteres, tiofeno) vaporízanse e elimínanse, mentres que as impurezas de alto punto de ebulición (por exemplo, poliaromáticos) permanecen nos residuos debido ás diferenzas na vía libre molecular.
  • ProdutoPureza do xofre ≥99,999 % (grao 5N), carbono orgánico ≤0,001 %, taxa de residuos <0,3 %.

3. Refinación da zona terciaria (conseguindo unha pureza de 6N)

  • EquipamentoRefinador de zona horizontal con control de temperatura multizona (±0,1 °C), velocidade de desprazamento da zona de 1 a 3 mm/h.
  • Segregación:
    Utilizando coeficientes de segregación (K=Csólido/ClíquidoK=Csólido/Clíquido​), a zona 20–30 pasa polos metais concentrados (As, Sb) no extremo do lingote. Descártase o 10–15 % final do lingote de xofre.

III. Postratamento e conformado ultralimpo

1. Extracción con solventes ultrapuros

  • Extracción de éter/tetracloruro de carbono:
    O xofre mestúrase con éter de grao cromatográfico (proporción en volume 1:0,5) con asistencia ultrasónica (40 kHz, 40 °C) durante 30 minutos para eliminar trazas de compostos orgánicos polares.
  • Recuperación de solventes:
    A adsorción por peneira molecular e a destilación ao baleiro reducen os residuos de solvente a ≤0,1 ppm.

2. Ultrafiltración e intercambio iónico

  • Ultrafiltración de membrana de PTFE:
    O xofre fundido fíltrase a través de membranas de PTFE de 0,02 μm a 160–180 °C e unha presión ≤0,2 MPa.
  • Resinas de intercambio iónico:
    As resinas quelantes (por exemplo, Amberlite IRC-748) eliminan ións metálicos a nivel de ppb (Cu²⁺, Fe³⁺) a caudais de 1–2 BV/h.

3. Formación dun ambiente ultralimpo

  • Atomización de gas inerte:
    Nunha sala limpa de clase 10, o xofre fundido atomízase con nitróxeno (presión de 0,8–1,2 MPa) en gránulos esféricos de 0,5–1 mm (humidade <0,001 %).
  • Envasado ao baleiro:
    O produto final sélase ao baleiro nunha película composta de aluminio baixo argón ultrapuro (≥99,9999 %) para evitar a oxidación.

IV. Parámetros clave do proceso

Fase do proceso

Temperatura (°C)

Presión

Tempo/Velocidade

Equipamento básico

Fusión en microondas

140–150

Ambiente

30–45 minutos

Reactor de microondas

Lavado con auga desionizada

120

2 barras

1 hora/ciclo

Reactor axitado

Destilación molecular

300–320

≤0,1 Pa

Continuo

Destilador molecular de percorrido curto

Refinamento de zonas

115–120

Ambiente

1–3 mm/h

Refinador de zona horizontal

Ultrafiltración de PTFE

160–180

≤0,2 MPa

Caudal de 1–2 m³/h

Filtro de alta temperatura

Atomización de nitróxeno

160–180

0,8–1,2 MPa

gránulos de 0,5–1 mm

Torre de atomización


V. Control de calidade e probas

  1. Análise de trazas de impurezas:
  • GD-MS (espectrometría de masas por descarga luminescente)Detecta metais a ≤0,01 ppb.
  • Analizador de COTMide carbono orgánico ≤0,001 ppm.
  1. Control do tamaño das partículas:
    A difracción láser (Mastersizer 3000) garante unha desviación D50 ≤±0,05 mm.
  2. Limpeza da superficie:
    A XPS (espectroscopia fotoelectrónica de raios X) confirma un grosor de óxido superficial ≤1 nm.

VI. Deseño de seguridade e ambiental

  1. Prevención de explosións:
    Os detectores de chama infravermellos e os sistemas de inundación de nitróxeno manteñen niveis de osíxeno <3 %
  2. Control de emisións:
  • Gases ácidosA depuración de NaOH en dúas fases (20 % + 10 %) elimina ≥99,9 % de H₂S/SO₂.
  • COVO rotor de zeolita + RTO (850 °C) reduce os hidrocarburos non metánicos a ≤10 mg/m³.
  1. Reciclaxe de residuos:
    A redución a alta temperatura (1200 °C) recupera metais; contido residual de xofre <0,1 %.

VII. Métricas tecnoeconómicas

  • Consumo de enerxía800–1200 kWh de electricidade e 2–3 toneladas de vapor por tonelada de xofre 6N.
  • RendementoRecuperación de xofre ≥85 %, taxa de residuos <1,5 %.
  • CustoCusto de produción ~120.000–180.000 CNY/tonelada; prezo de mercado 250.000–350.000 CNY/tonelada (grado semicondutor).

Este proceso produce xofre 6N para fotorresinas semicondutoras, substratos compostos III-V e outras aplicacións avanzadas. A monitorización en tempo real (por exemplo, análise elemental LIBS) e a calibración de sala limpa de clase ISO 1 garanten unha calidade consistente.

Notas ao pé

  1. Referencia 2: Estándares industriais de purificación de xofre
  2. Referencia 3: Técnicas avanzadas de filtración en enxeñaría química
  3. Referencia 6: Manual de procesamento de materiais de alta pureza
  4. Referencia 8: Protocolos de produción química de grao semicondutor
  5. Referencia 5: Optimización da destilación ao baleiro

Data de publicación: 02-04-2025